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菲希爾DMP20測(cè)厚儀測(cè)量方法
點(diǎn)擊次數(shù):57 更新時(shí)間:2025-07-15
 

菲希爾DMP20測(cè)厚儀測(cè)量模式,適配復(fù)雜場(chǎng)景

單一讀數(shù)模式

適用于對(duì)單個(gè)測(cè)量點(diǎn)涂層厚度的精準(zhǔn)測(cè)量,滿足對(duì)關(guān)鍵部位、重點(diǎn)區(qū)域高精度測(cè)量的需求,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

自由運(yùn)行模式

在大面積涂層快速掃描測(cè)量中發(fā)揮優(yōu)勢(shì),能夠快速獲取涂層整體厚度情況,幫助用戶在短時(shí)間內(nèi)掌握大面積涂層的基本狀況,提高檢測(cè)效率。

掃描模式

針對(duì)特定區(qū)域進(jìn)行細(xì)致測(cè)量,可獲取詳細(xì)的涂層厚度分布信息,為分析涂層均勻性、發(fā)現(xiàn)局部缺陷等提供全面數(shù)據(jù)支持,適用于對(duì)涂層質(zhì)量要求較高的復(fù)雜檢測(cè)場(chǎng)景。


 
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